Terms for subject Microelectronics containing test

English	German
accelerated test	Kurzzeitprüfung
acceptance test specification	Abnahmeprüfspezifikation
array of test instruments	Aufgebot von Prüfgeräten
array of test instruments	Menge von Prüfgeräten
array test structure	Matrixteststruktur
assemblies screened per test dollar je	Testdollar selektierte Baueinheiten
assess test chip data	Testchipdaten bewerten
assurance test	Sicherheitsprüfung
automated test and analysis system	automatisiertes Test- und Analysesystem
automated test equipment	automatischer Prüfplatz
automated test equipment	automatisches Prüfgerät
automatic test equipment	automatischer Prüfplatz
automatic test system	Prüfautomatik
automatic test system	automatische Prüfanlage
bar test pattern	Balkenteststruktur
bed-of-nails test fixture	Nagelbett-Testanordnung
benchmark test	Vergleichstest (Vergleich zweier Befehlsvorräte)
blank transmission test	Leerübertragungsprüfung
bond pull test	Bondzugversuch
calculator circuit test instrument	Testgerät für Rechnerschaltkreise
certified test record	Testzertifikat
certified test record	beglaubigtes Prüfprotokoll
circuit test instrument	Schaltungsprüfgerät
clear-field test mask	Klarfeldtestschablone
comb test pattern	Kammteststruktur
compile a test program	ein Testprogramm kompilieren
computer-based automatic test equipment	rechnerunterstützte automatische Prüfeinrichtung
computer-based in-circuit test system	maschinenunterstützte systemeigene Testanlage
computer-generated test data	rechnererstellte Testdaten
configure systems with any combination of test features	Anlagen mit beliebiger Kombination von Kontrollparametern zusammenstellen
continuity test	Leitungsprüfung
crippled leapfrog test	Teildurchprüfung im Bocksprungprogramm
defect measurement test pattern	Teststruktur zur Messung der Defektdichte
defect test pattern	Defektteststruktur
device under test	zu prüfendes Bauelement
diagnostic function test	Diagnosefunktionstest
diagnostic test routine	Diagnoseprogramm
diagnostic test routine	Fehlersuchprogramm
eddy-current test set	Wirbelstromtester
environmental test	Umgebungstest
establish the validity of test chip data	die Gültigkeit der Testchipdaten nachweisen
exception test	Ausnahmetest
failures screened per test step	je Prüfposition selektierte Fehler
fault isolation test technique	Fehlereingrenzungstestverfahren
fault Simulation test method	Fehlersimulierungstestverfahren
fault test structure	Fehlerteststruktur
functional pin test	Anschlußprüfung
functional test requirement	Funktionstestanforderung
functional test result	Funktionstestergebnis
in-circuit test installation	systemintegrierte Testanlage
in-circuit test system	systemintegrierte Testanlage
individually designed and built in-house test equipment	spezielle werksinterne Prüfeinrichtung
insert test patterns	Teststrukturen einsetzen
insertion of test patterns	Einfügung von Teststrukturen
interface card test	Schnittstellenkartentest
interfacing capability between the PCB and the test system	Kopplungsmöglichkeit zwischen Leiterplatte und Testsystem
leapfrog test	sprungweise Durchprüfung
load new patterns into test buffers	die Testpuffer mit neuen Mustern laden
location of the test pattern	Ort der Teststruktur
log test results	Testergebnisse erfassen
loop back test	Rückschleifentest
lot acceptance test	Stichprobenqualifikationsprüfung
lowest-level test	Test auf der untersten hierarchischen Ebene
meander test pattern	Mäanderteststruktur
memory test system	Speichertestsystem
multipurpose test chip	Mehrzwecktestchip
operational life test	Betriebslebensdauerprüfung
output a test program	ein Testprogrämm ausgeben
parametric test system	Parametertestsystem
pre-test	Vorprüfung
prepare test programs	Testprogramme erarbeiten
pressure cooker test	Dampfdrucktest
procedural test	Ablauftest
pull test	Zugtest
rate test	Bewertungstest
rectifier test instrument	Gleichrichtertestgerät
registration test pattern	Überdeckungsteststruktur
replicate microelectronic test structures across the surface of a wafer	mikroelektronische Teststrukturen auf der Waferfläche vervielfältigen
reproducibility test	Reproduzierbarkeitsprüfung
resolution test pattern	Auflösungsteststruktur
route test stimuli to	Testimpulse leiten zu
run a test	einen Versuch durchführen
rush from test bench to production line	aus der Entwicklung schnell in die Produktion übergeleitet werden
scan the electron spot across the surface under test	mit dem Elektronenstrahl die zu prüfende Oberfläche abrastern
Screening test	Aussonderungstest
self-test capability	Eigenprüfmöglichkeit
self-test function	Eigenprüffunktion
self-test method	Eigentestverfahren
self-test routine	Eigenprüfprogramm
smoke test	erste Sichtprüfung
sort the chips by test results	die Chips nach Testergebnissen sortieren
special-purpose test language	Spezialtestsprache
spreading resistance test system	Bahnwiderstandstestanlage
steady-state-stress test	Test mit stetiger Belastung
step test chips into wafers	Testchips mit dem Repeater in Wafer einbelichten
step-stress test	Belastungstest in Stufen
substitute test patterns into the array	Teststrukturen in das Anordnungsfeld einfügen
substitute the test chips at selected sites for integrated circuits on wafers	die integrierten Schaltkreise durch Testchips in ausgewählten Plätzen auf den Wafern ersetzen
test alphabetic	Gültigkeitsprüfung auf alphabetische Eingabe
test-and-set instruction	Befehl "Testen und Setzen"
test-and-set signal	Signal Testen und Setzen
test approach	Prüfverfahren
test arrangement	Testanordnung
test bed	Softwarepaket für Programmprüfung
test card diagnostic	Prüfkartendiagnose
test chart of lines of progressively decreasing line width and separation	Linientest mit zunehmend kleineren Linienbreiten und -abständen
test chip	Testchip
test circuit	Versuchsschaltung
test circuit for performance measurement	Testschaltkreis für Leistungsmessung
test configuration	Testanordnung
test efficiency	Prüfleistung (ermittelte Fehler je Testschritt)
test equipment	Testgerät
test equipment system	Testanlage
test equipment system	Prüfanlage
test execution time	Testausführungszeit
test for opens or shorts	auf Stromkreisunterbrechungen oder Kurzschlüsse prüfen
test for the absence of error	auf Fehlerlosigkeit kontrollieren
test hybrid	Testhybridmikroschaltung (microcircuit)
test in hierarchical fashion	in hierarchischer Stufenfolge testen
test insert	Testbildeinfügung
test instruction	Prüfbefehl
test instrumentation	Testgeräte
test itself	sich selbst prüfen
test language	Testsprache
test matrix for reproducibility studies	Prüfmatrix für Reproduzierbarkeitsuntersuchungen
test numeric	Gültigkeitsprüfung auf richtige numerische Eingabe
test pattern	Prüfmuster (Software)
test pattern	Teststruktur (Testchip)
test-pattern drop-in	Teststruktureinfügung
test-pattern drop-in	Einfügung von Teststrukturen
test-pattern insertion	Teststruktureinfügung
test-pattern insertion	Einfügung von Teststrukturen
test period	Prüfzeitraum
test point expandability	Erweiterungsfähigkeit der Testpunkte
test point on a p.c. board	Prüfpunkt auf einer Leiterplatte
test port	Testkanal
test problem with a known solution	Prüfaufgabe mit bekannter Lösung
test program generation	Testprogrammgenerierung
test program generator	Testprogrammgenerator
test program package	Testprogrammpaket
test programming	Testprogrammierung
test programming requirement	Testprogrammieranforderung
test reticle	Testretikel
test run	Probedurchlauf
test setup	Testanordnung
test site	Testplatz
test site	Testort
test site	Prüfpunkt
test socket	Stecksockel für Testzwecke
test socket	Teststecksockel
test socket pin	Prüfsockelstift
test statically	statisch testen
test station	Prüfplatz
test step	Prüfposition
test strategy	Prüfstrategie
test structure	Teststruktur
test target	Testobjekt (s.a. test reticle)
test the chip on tape prior to final packaging	das Chip auf dem Filmband vor der Endverkappung prüfen
test the circuit after fabrication	den Schaltkreis nach seiner Herstellung prüfen
thermal cycling test	Hitze-Kälte-Test (Umgebungstest)
time-out test	Zeitablaufprüfung
trigger the self-test routine	das selbsttätige Prüfprogramm einleiten (auslösen)
unit-distance under test	zu testende Einheit
validate test chip data	die Gültigkeit von Testchipdaten nachweisen
validation of test chip data	Gültigkeitsnachweis der Testchipdaten