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Terms for subject Microelectronics containing Specimen | all forms | exact matches only
EnglishGerman
lens-to-specimen spacingAbstand zwischen Objektiv und Probe
scan on the specimen surfaceAbrasterung auf der Probenoberfläche
scan on the specimen surfaceAbtastung auf der Probenoberfläche
scanning of the incident electron beam across the specimen surfaceAbrastern der Probenoberfläche mit dem einfallenden Elektronenstrahl
specimen planeProbenebene

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