Terms for subject Microelectronics containing Inspection

English	German
automated photomask inspection	automatische Defektkontrolle auf Fotoschablonen
automatic inspection of mask defects	automatische Defektkontrolle
average total inspection	durchschnittliche Anzahl der geprüften Einheiten je Los
chip inspection	Chipprüfung
defect inspection	Defektkontrolle
defect inspection equipment	Defektkontrollgerät
defect inspection task	Defektkontrollaufgabe
dimensional inspection in a microdensitometer mode	Kontrolle der Abmessungen nach einem Mikrodensitometerverfahren
double sampling inspection	Doppelstichprobenprüfung
go through an optical inspection	eine optische Kontrolle durchlaufen
hundred-percent inspection	Vollprüfung
100 % inspection	Vollprüfung
inspection audit	Revision des Kontrollverfahrens
inspection audit	Überprüfung des Kontrollverfahrens
inspection by variables	Variablenstichprobe
inspection data	Kontrolldaten
inspection equipment	Kontrollgerät
inspection error	Kontrollfehler
inspection for visual defects	Kontrolle auf visuelle Defekte
inspection of photomask defects	Kontrolle von Maskendefekten
inspection result	Kontrollergebnis
inspection sampling plan	Kontrollstichprobenplan
inspection speed	Kontrollgeschwindigkeit
inspection technique	Kontrollverfahren
inspection time	Prüfzeit
inspection time	Kontrollzeit
intermediate inspection	Zwischenkontrolle
mask inspection	Defektkontrolle der Maske
mask inspection equipment	Defektkontrollgerät
mask inspection equipment	Maskenprüfgerät
mask inspection station	Defektkontrollstation
mask inspection system	Defektkontrollgerät
mask inspection system	Maskenprüfgerät
mask inspection technique	Maskenkontrollverfahren
multiple sampling inspection	Mehrfachstichprobenprüfung
output selected data to the operator for visual inspection	ausgewählte Daten für den Bediener zur Sichtkontrolle ausgeben
100-percent visual inspection	visuelle Vollprüfung
photomask inspection machine	Defektkontrollgerät
photomask inspection system	Defektkontrollgerät
photomask inspection technology	Maskenkontrolltechnik
production inspection	Produktionskontrolle
reticle inspection equipment	Retikelprüfgerät
sampling inspection plan	Stichprobenprüfplan
Screening inspection	Vollprüfung
sophisticated automatic inspection	komplizierte automatische Kontrolle (Prüfung)
visual defect inspection	visuelle Defektkontrolle
wafer inspection and classification system	Waferdefektkontroll- und -klassifizierungsanlage
wafer inspection microscope	Waferkontrollmikroskop
wafer inspection station	Waferkontrollplatz