Russian ⇄ English

А Б В Г Д Ё Ж З И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Э Ю Я   <<  >>

Terms for subject Microelectronics (13461 entries)

испытания на надёжность под нагрузкой	stress reliability test
испытания на сдвиг	shear testing	semfro­mshire
испытания на старение	aging test
испытания на стойкость к термоударам	thermal-shock test
испытания на стойкость к термоциклированию	temperature cycling test
испытания на тропикостойкость	temperature and humidity test
испытания на ударопрочность	shock test
испытательная (контактная) площадка	test pad
испытательная установка для логических ИС	logic tester
испытательная установка для специализированных ИС	ASIC tester
испытательное устройство для печатных плат с БИС	LSI board tester
испытательный стенд	test rack
исследование методом рамановской спектроскопии	Raman probing
исследуемая ячейка	sample cell
исток p-типа	p-doped source
истоковая область	source area
истоковый	source
истоковый слой	source layer
источник дальнего ультрафиолетового излучения	deep-ultraviolet source
источник дискретной информации	discrete source